Gaya APA

PUTRA, H, E. (1998). SISTEM KONTROL DAN DETEKSI SINYAL ATOMIC FORCE MICROSCOPE DENGAN METODA UJI SIMULASI . Serpong: TEKNIK ELEKTRO.

Gaya MLA

PUTRA, HENDRY, EKA. "SISTEM KONTROL DAN DETEKSI SINYAL ATOMIC FORCE MICROSCOPE DENGAN METODA UJI SIMULASI". Serpong: TEKNIK ELEKTRO, 1998. Tugas Akhir Sarjana.